1. Atomic force microscopy/scanning tunneling microscopy 3
پدیدآورنده: edited by Samuel H. Cohen and Marcia L. Lightbody.
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبانهای اروپایی (قم)
موضوع: Microscòpia d'escombratge per efecte túnel.,Microscòpia electrònica de rastreig.,Microscòpia electrònica d'escombratge.
رده :
QH212
.
A78
E358
2002